USB键盘信息电磁泄漏的测试、仿真及防护技术研究的中期报告.docxVIP

USB键盘信息电磁泄漏的测试、仿真及防护技术研究的中期报告 中期研究报告： 一、研究背景及目的 随着计算机应用的不断发展，信息安全问题也成为了一个亟待解决的问题。其中，电磁泄漏问题是指计算机内部的电信号经过电磁传播以后泄漏到了外部环境中被攻击者截获并加以利用，从而导致信息泄露的问题。USB键盘作为一种常见的外设设备，其内部电磁泄漏问题对于信息安全造成的风险尤为突出。因此，本研究旨在通过测试、仿真等手段对USB键盘的电磁泄漏问题进行研究，并探索一些有效的防护技术。 二、研究内容及进展 1.测试方法 本研究采用了先前研究过的“悬线法”等方法对USB键盘的电磁泄漏情况进行测试，并通过模拟不同场景下的实际使用情况对测试结果进行验证。 2.仿真分析 基于测试结果，我们在HFSS软件中建立了USB键盘电路的三维模型，并分析了不同元器件以及布局方式对电磁泄漏的影响。此外，我们还通过仿真对抗了USB键盘电路所产生的电磁场，并计算出了电磁泄漏的幅度和频率等参数。 3.防护技术 根据测试和仿真结果，我们提出了一些USB键盘电磁泄漏防护措施。其中，较为有效的措施包括采用屏蔽罩等外部保护措施和使用抑制器等内部防护措施。 三、下一步计划 本研究还将继续深入研究USB键盘电磁泄漏问题的机理，着重探究USB键盘电路的设计优化和加强外部护罩等措施对其电磁泄漏的影响。同时，将进一步探究适用于实际生产的USB键盘防护