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如何由XRD 图谱确定所做的样品是准晶结构？ XRD 图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？ 三者并无严格明晰的分界。 在衍射仪获得的XRD 图谱上，如果样品是较好的晶态物质，图谱 的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的尖峰 （其半高度 处的2θ 宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的 晶体衍射峰的最小宽度）。如果这些峰明显地变宽，则可以判定样 品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为微晶。晶体的X 射线衍射理论中有一个Scherrer 公式，可以根据谱线变宽的量估算晶 粒在该衍射方向上的厚度。 非晶质衍射图的特征是：在整个扫描角度范围内 （从2θ 1°~2°开始 到几十度）只观察到被散射的 X 射线强度的平缓的变化，其间可能 有一到几个最大值；开始处因为接近直射光束强度较大，随着角度的 增加强度迅速下降，到高角度强度慢慢地趋向仪器的本底值。从 Scherrer 公式的观点看，这个现象可以视为由于晶粒极限地细小下去 而导致晶体的衍射峰极大地宽化、相互重叠而模糊化的结果。晶粒细 碎化的极限就是只剩下原子或离子这些粒子间的近程有序了，这就 是我们所设想的非晶质微观结构的场景。非晶质衍射图上的一个最 大值相对应的是该非晶质中一种常发生的粒子间距离。 介于这两种典型之间而偏一些