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本发明公开一种轴一致性检测系统及方法，涉及光学测量领域，轴一致性检测系统包括：指示激光发射器、观瞄激光发射器、测量升降架、测量主机、中控设备；指示激光发射器发射指示激光信号，观瞄激光发射器发射观瞄激光信号，设置在测量升降架上的测量主机，接收指示激光信号、观瞄激光信号并得到数字图像，进一步地，中控设备根据数字图像，分析被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性；保证测量精度的同时，解决了室外检测不易操作，易受人为主观因素影响的问题。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116659816 A
(43)申请公布日 2023.08.29
(21)申请号 202310575070.9
(22)申请日 2023.05.22
(71)申请人 长春理工大学
地址 130022
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