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测试电路及采用该测试电路的存储芯片.pdfVIP

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  • 2023-08-31 发布于四川
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测试电路及采用该测试电路的存储芯片.pdf

    本实用新型提供一种测试电路及存储芯片，所述测试电路用于存储器的压缩数据读取，所述测试电路包括M个存储块，所述M为大于或等于2的偶数，其中N个存储块组成一个存储组，所述N为大于或等于2且小于或等于M的偶数，所述M是所述N的整数倍，其特征在于，所述测试电路还包括：压缩数据读取单元，一个所述压缩数据读取单元对应一个所述存储组，所述压缩数据读取单元与对应的所述存储组中的所述N个存储块连接，所述压缩数据读取单元接收压缩数据读取命令和地址信息，并根据所述压缩数据读取命令和所述地址信息读取所述N个存储块中的数

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210271794 U (45)授权公告日 2020.04.07 (21)申请号 20192

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