YDT 3037.2-2023通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC.pdfVIP

ICS 33.060.20 CCS M36 YD 中 华 人 民 共 和 国 通 信 行 业 标 准 YD/T 3037.2—XXXX 代替 YD/T 3037.2-2016 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量 存储接口特性测试方法 第2 部分：UICC Test methods for mass storage characteristic between UICC and terminal interface — —Part 2:UICC (报批稿) XXXX - XX - XX 发布 XXXX - XX - XX 实施 中华人民共和国工业和信息化部 发 布 YD/T XXXXX—XXXX 前 言 本文件按照GB/T1.1-2020 《标准化工作导则第1部分：标准化公文的结构和起草规则》给出的规则 起草。 本文件是通用集成电路卡 (UICC)与终端间大容量存储接口特性的系列标准之一，该系列标准的名 称及结构如下： ——通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性技术要求； ——通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端； ——通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC。 本文件为YD/T 3037.2-2016 《通用集成电路卡 (UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2 部分：UICC》的修订版本，与YD/T 3037.2-2016相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下： a) 增加了SD UICC系统架构 （见6.1.2）； b) 增加了SD UICC物理特性 （见6.2.2）； c) 增加了SD UICC电气特性 （见6.3.2）； d) 增加了SD UICC初始通信建立程序 （见6.4.2）； e) 增加了SD UICC性能要求 （见6.5.2）； f) 增加了SD UICC功能要求 （见6.6.2）。 g) 增加了SD UICC物理特性测试 （见7.1.2和7.1.3）； h) 增加了SD UICC电气特性测试 （见7.2.2和7.2.3）； i) 增加了SD UICC初始化测试 （见7.3.2节）； j) 增加了SD UICC性能要求测试方法 （见7.4.2）； k) 增加了SD UICC功能要求测试方法 （见7.5.2和7.5.3）。 l) 修改附录A，增加SD UICC的对应关系； m) 增加附录D。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本部分由中国通信标准化协会提出并归口。 本部分起草单位：中国信息通信研究院, 博鼎实华（北京）技术有限公司,中国移动通信集团有限 公司,中国联合网络通信集团有限公司,中国电信集团有限公司,紫光国芯微电子股份有限公司，北京中 电华大电子设计有限责任公司。 本部分主要起草人：郑海霞、张苒、马凡、朱岩、邓建国、刘煜、乐祖辉、陈国华、王诗俊、刘斌、 彭程、杨剑、赵敬超、何明、霍航宇、李建龙、王余、张炳楠、裴佳裕。 III YD/T XXXXX—XXXX 引 言 为优化文件篇幅，方便不同厂家或机构根据不同需求选择相应的标准，需制