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一种ARM芯片cache命中率的测试方法，属于通信及计算机领域。ARM芯片cache命中率的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤a，根据需要测试的测试程序的编程语言和目标平台，编写插桩代码；步骤b，将步骤a中编译的插桩代码和测试程序进行合并，并进行编译和链接，生成带有插桩代码的二进制可执行文件；步骤c，在目标平台上运行测试程序；步骤d，分析测试结果，根据插桩代码记录的Cache的命中次数和访问次数，计算出cache当前测试的命中率，并与前次测试的命中率进行比较。在本ARM芯片cache命中率
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116680193 A
(43)申请公布日 2023.09.01
(21)申请号 202310762474.9
(22)申请日 2023.06.27
(71)申请人 上海磐易科技有限公司
地址 20
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