CN114155367B-印制电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.docVIP

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  • 2023-09-04 发布于上海
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CN114155367B-印制电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.doc

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 114155367 B (45)授权公告日 2022.05.13 (21)申请号 202210119898.9 (22)申请日 2022.02.09 (56)对比文件 CN 112837303 A ,2021 .05 .25 CN 1677096 A ,2005 .10 .05 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 114155367 A (43)申请公布日 2022.03 .08 (73)专利权人 北京阿丘科技有限公司 地址 100089 北京市海淀区上地东路1号院 1号楼6层601A-02号 (72)发明

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