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一种用于测量地下地层孔隙度的方法包括如下步骤：将具有一个或多个中子源和两个或多个双功能探测器核测井工具布置在地下地层中；使一个或多个中子源以多个中子脉冲的形式向地下地层发射中子，并在地下地层中产生中子和伽玛射线；获得两个或多个探测器中的每一个探测器的一个或多个中子计数率；根据一个或多个探测器所接收到的伽玛射线来确定地下地层的地层类型；计算从两个或更多个探测器中选取的两个探测器的中子计数率之间的一个或多个中子计数率比值；及根据地层类型和一个或多个中子计数率比值来获得一个或多个地层孔隙度。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116696335 A
(43)申请公布日 2023.09.05
(21)申请号 202310184251.9
(22)申请日 2023.03.01
(30)优先权数据
17/653,561 2022
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