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本发明公开了一种芯片存储器的测试方法、存储介质。本发明提出的芯片存储器的测试方法，包括：读取芯片的电路设计文件，并找到芯片的所有存储器；对所有存储器进行分组，包括：兼容性分组和/或复用性分组；所述兼容性分组的定义为将可被同一个控制器控制、可同时进行测试、对电路参数的要求具有一致性的存储器划分在同一组；所述复用性分组的定义为将可复用同一个接口电路来连接控制器的存储器划分在一组；基于存储器的分组，生成对应的接口电路及控制器电路；基于控制器电路及接口电路对分组后的存储器进行测试。本发明可以有效提高芯片
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116721691 A
(43)申请公布日 2023.09.08
(21)申请号 202310786652.1
(22)申请日 2023.06.29
(71)申请人 深圳国微福芯技术
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