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一种基于Chiplet的芯片内置自测试方法和系统.pdfVIP

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  • 2023-09-10 发布于四川
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一种基于Chiplet的芯片内置自测试方法和系统.pdf

    本发明公开了一种基于Chiplet的芯片内置自测试方法和系统，属于集成电路的技术领域，所述方法包括：对芯粒Chiplet的各种故障模式确定优先级；基于故障模式的优先级，确定扫描链结构和第一BIST模块的功能测试方案，运行测试用例对芯片进行测试，第二BIST模块基于对所述第一BIST中的测试结果的分析确定细粒度性能测试的扫描链覆盖范围和测试调度算法，动态配置细粒度测试的子扫描链，以及激活或禁用特定子扫描链模块，以及使用细粒度测试的扫描链对芯片内部状态进行控制和测试监控。本发明通过故障模式分析与优先

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116718902 A (43)申请公布日 2023.09.08 (21)申请号 202311008070.7 (22)申请日 2023.08.11 (71)申请人 中诚华隆计算机技术有限公司 地址

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