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- 2023-09-11 发布于四川
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一种改进晶片边缘形貌设计的晶片基板,包括晶片基板和折取部位,所述折取部位位于晶片基板底部,所述晶片放置于晶片基板上,其特征在于:所述晶片基板的左侧边向下延伸至折取部位左侧下边缘处,晶片基板的右侧边向下延伸至折取部位右侧下边缘处。本实用新型结构简单、能达到石英晶片外形规则、成品参数一致性更好、可靠性更高。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210380789 U
(45)授权公告日
2020.04.21
(21)申请号 20192
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