用于晶体元件的温度冲击试验装置.pdfVIP

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  • 2023-09-13 发布于四川
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本实用新型涉及一种用于晶体元件的温度冲击试验装置,包括机壳、高、低温室、电气控制系统、制冷系统、提篮、升降机构,其技术要点是:高、低温室的后部分别设有热风循环轴流风机和冷风循环轴流风机,高温室内部左、右两侧分别设有与热风循环轴流风机的安装室连通的左、右加热腔室,左、右加热腔室靠近高温室门侧的位置纵向设有热风排风口;低温室内部左、右两侧分别设有与冷风循环轴流风机的安装室连通的左、右冷却腔室,左、右冷却腔室靠近低温室门侧的位置纵向设有冷风排风口。其结构简单、使用可靠,保证高温室、低温室的测试温度快速

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210401558 U (45)授权公告日 2020.04.24 (21)申请号 20192

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