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本实用新型公开了一种霍尔集成电路的动态测试系统，涉及集成电路制造技术领域，旨在解决现有的分选测试系统仅能在静态磁场下对集成电路的数、模或混合电路特性进行测量，无法满足动态磁场下测试的技术问题，其技术方案要点是包括计算机、测试主机、分选装置，所述计算机耦接于测试主机，所述测试主机耦接于分选装置，所述测试主机内部设置有直流电源，所述分选装置位于测试口两侧设置有电磁装置，所述电磁装置与直流电源电连接，所述分选装置设置有夹持测试装置，所述夹持测试装置与直流电源电连接。达到了在集成电路外侧施加动态的磁场，
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210411600 U
(45)授权公告日
2020.04.28
(21)申请号 20192
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