一种半导体开短路测试设备.pdfVIP

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2023-09-15 发布于四川
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本实用新型公开了一种半导体开短路测试设备，包括检测设备主体、蓄电池、可动检测爪、导电片、固定检测爪、干电池、电流表和电压表，所述检测设备主体的内部一侧开设有蓄电池安装槽，所述蓄电池安装槽的内部安装有蓄电池，所述检测设备主体的内部中间位置开设有设备安装槽，所述电流表和电压表均通过螺丝固定安装在设备安装槽的内部，所述检测设备主体的内部另一侧开设有干电池安装槽，所述干电池安装槽的内部安装有干电池，所述检测设备主体的内部上部开设有可动检测爪滑槽，所述可动检测爪滑槽的内部固定安装有导电片，本实用新型体积较

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210427642 U (45)授权公告日 2020.04.28 (21)申请号 20192