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本发明公开了一种集成芯片的被动模式验证方法及系统，涉及芯片验证技术领域，包括搭建基于UVM的SV域验证平台、基于Mealy状态机的CPP域验证平台以及信号传输通道；SV域验证平台将第三方VIP提供的测试序列作为待测设计激励，接收待测设计的输出信号并周期采样，将采样后的信号封装成第一事务；第一事务在CPP域验证平台进行检测；将检测结果通过信号传输通道传输给SV域验证平台进行报错或警告处理并在验证结束时输出验证报告。本发明基于被动模式全面且客观地监测不同测试案例下待测设计输出信号与通信协议要求的匹配
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116776785 A
(43)申请公布日 2023.09.19
(21)申请号 202310757356.9
(22)申请日 2023.06.26
(71)申请人 杭州市滨江区浙工
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