电子轰击和电喷雾电离源有机质谱裂解规律的量子化学解析的中期报告.docxVIP

电子轰击和电喷雾电离源有机质谱裂解规律的量子化学解析的中期报告 本报告主要介绍了电子轰击（EI）和电喷雾电离（ESI）源有机质谱的裂解规律的量子化学解析的研究进展情况。 首先，我们对EI和ESI源的质谱过程进行了分析。在EI源中，电子从电子枪射向分子中，并将分子轰击成离子态；而在ESI源中，高电压会将流动的试样溶液中的分子电离成离子态。由于两种源的离子生成方式不同，因此其质谱裂解规律也有显著差异。 在EI源中，裂解通常发生在化合物分子的最不稳定位置，即在碳-碳双键和其他易于断裂的键处。随着裂解反应的进行，离子化试样中的缺失物质以及轨道中未填满的电子成为碎片离子的来源。这些碎片离子的质量-荷比（m/z）值可通过经验规则（如Kovats指数）来预测，并可以用于化合物的识别。 在ESI源中，碎片离子的生成是通过荷载转移离子化过程来实现的，其中试样中的分子与荷载离子碰撞，后者将荷电状态转移到了前者，并产生了碎片离子。因此，在ESI源中，离子的裂解通常发生在分子中的键处，这些键被荷载离子撞击后变得不稳定。这些碎片离子的m/z值取决于荷载离子的质荷比，因此不同的荷载离子会产生不同的化合物质谱图。 针对这些不同源的质谱裂解规律，我们使用量子化学方法进行了模拟。通过分析分子轨道能级、电子云分布、键长和键角等属性，我们可以预测EI和ESI源中的质谱裂解方式。此外，我们还评估了不同离子源参数（如离子化电压和喷雾气流速度）对质谱裂解模式的影响。 总的来说，我们的研究为理解有机化合物在质谱分析中的裂解规律提供了一种新的、基于量子化学的方法，可以为质谱数据的解释、化合物鉴定和质量/结构关系的研究提供更精确的工具。