一种蚀刻方法、含氟气体使用方法及混合气体.pdfVIP

一种蚀刻方法、含氟气体使用方法及混合气体.pdf

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本发明属于半导体加工技术领域,尤其涉及一种蚀刻方法、含氟气体使用方法及混合气体;于第一蚀刻材料调整步骤(910)加入特定组分的第一蚀刻材料(气体)以干预蚀刻过程中光阻PR(PhotoResist)侧壁聚合物(Polymer)的生成,进而在蚀刻同时降低聚合物的厚度和致密度;此外,还通过第二偏置功率调整步骤(920)进一步优化干预过程的指向性,在预设的偏置功率和气体流量下,约束等离子体的能量,给出了聚合物处置的优选过程;进而通过给出预设的混合气体组分,较为彻底地去除了侧壁聚合物的残留(Residu

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116798867 A (43)申请公布日 2023.09.22 (21)申请号 202310789233.3 (22)申请日 2023.06.30 (71)申请人 华虹半导体(无锡)有限公司 地址

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