阵列基座平面度测量系统关键技术研究的中期报告.docxVIP

阵列基座平面度测量系统关键技术研究的中期报告 本研究的目的是开发一种针对阵列基座的平面度测量系统，以便更准确地测试光电元器件之间的间隔和位置差异。在这个阶段，我们已经完成了数据采集系统和图像处理算法的设计和开发，并进行了初步的测试。 数据采集系统方面，我们选择了高分辨率的相机和精密的运动控制器，以确保测量结果的精度。通过对相机和运动控制器的调试和优化，我们实现了高速、高精度的数据采集，并对数据进行了校准和补偿，以消除因非均匀性、散焦等原因引起的误差。 图像处理算法方面，我们采用了基于模板匹配的方法，通过对图像的相似性进行比较，来计算板子表面的平面度。我们使用了自适应阈值调整和多尺度搜索等技术来提高算法的稳定性和精度。在实验中，我们通过比较算法的结果和已知的测量值，验证了该算法的准确性和可靠性。 此外，在实验中我们还发现了一些问题和挑战，例如光线干扰、图像噪声、运动稳定性等，这些问题需要在下一阶段的研究中加以解决和优化。 总之，我们的中期报告展示了阵列基座平面度测量系统的设计与开发，初步验证了系统的可行性和准确性，为下一阶段的进一步优化和改进奠定了基础。