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z扫描技术的发展及应用 在研究材料的三阶段非线性光学效应中，非线性机制经常同时存在，这给分析测量结果带来了困难。如传统的简并四波混频法(DFWM)所测得的信号光强度正比于|x(3)|2,因此难以区分非线性折射率n2(x(3)的实部)和非线性吸收β(x(3)的虚部)的贡献,也难以区分n2的正、负。而由Sheik-Bahae等人于1989年提出的单光束Z-scan技术,具有装置简单、灵敏度高等优点,且可分别得到x(3)的实部和虚部及其符号。因而被广泛应用于材料的非线性光学性质研究[34,35,36,37,38,39,40,41,42,43,44,45,46,47,48,49,50,51,52,53,54]。近年来在此基础上发展了多种改进的Z扫描技术,使测量的灵敏度有了极大的提高,且拓展了测量的内容。本文重点介绍了几种具有代表性的Z扫描技术,综述了该理论与技术的进展。 1 波正信号分析中的tp-v分析 典型的Z-scan实验装置如图1所示。假设入射光束为高斯光束,样品放在聚焦透镜的焦点附近,对于具有非线性光学效应的介质,由于非线性折射率变化,使样品等效于一个正透镜或负透镜。从而使光束产生自聚焦或自散焦现象,引起远场处透过小孔的光通量发生变化。当样品沿Z轴自-Z经焦点向+Z方向移动时,小孔的透过率随样品的位置的变化曲线呈谷-峰或峰-谷形状(图2)。 为简化起见,仅考虑介质的三阶非线性效应