基于JTAG的星型扫描接口的设计及其仿真.docVIP

基于JTAG的星型扫描接口的设计及其仿真 边界扫描测试技术飞速发展，测试与调试功能不断增强，硬件IP模块向集成多个内核方向发展，以往芯片中传统的测试访问端口（TAP）中嵌入单一的测试访问端口控制器（TAPC）逐渐被系统芯片中嵌入多个TAPC所取代。为使单芯片中集成多TAPC的操作规范标准化，2009年提出的新的测试标准IEEE 1149.7。为解决系统集成复杂度越来越高所带来的测试调试任务困难，标准规范了一种支持星型扫描功能的IEEE 1149.7测试访问端口（在本文中称为TAP.7接口），其接口在原有的IEEE1149.1端口（JTAG）器件的基础上提供新的功能与特征[1]。目前，大量的集成系统和芯片接口都为IEEE 1149.1标准规范测试访问端口（TAP.1接口），既满足复杂系统测试的需要，又避免了重复开发所带来的浪费，最大化地重复利用目前已有的IEEE 1149.1 IP，基于原有JTAG器件的星型扫描技术的研究非常有应用价值和市场需求，本文针对支持星型扫描功能的接口进行研究、设计及验证。1 IEEE 1149.7标准简介IEEE 1149.7标准以IEEE 1149.1-2001边界扫描标准为基础，保持与之兼容的同时还增加新特性以支持测试与调试的扩展功能。标准规范了新特性的IEEE 1149.7测试访问端口（在本文中称为TAP.7接口）结构和控制时序逻辑，与IE