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本实用新型公开了一种芯片的漏电流检测设备，其结构包括传送带、检测箱、芯片载盘、载台，传送带安装在载台上，检测箱位于载台顶端，检测箱和载台焊接连接，芯片载盘位于传送带上，传送带设有传送带卡槽，芯片载盘与传送带卡槽卡合连接；检测箱设有气管、伸缩臂、液压机、数据传输线、检测结构、检测箱箱体，当遇到大小不同芯片的时候可以让气缸工作控制活塞杆长度使测试针能够与引脚接触。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210572595 U
(45)授权公告日
2020.05.19
(21)申请号 20192
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