第七章中子的防护详解.pptVIP

二. 计算快中子屏蔽的分出截面法 第一节 快中子屏蔽的分出截面法和张弛长度法 2. 快中子在非含氢介质中的减弱 在实际工作中，由于对工艺结构及使用条件的限制，往往要求采用某些比较轻的材料，作为中子的慢化剂，在以非含氢介质作慢化剂的均匀介质内的某一点，到各向同性单能点源的距离r大于几个自由程的范围内，能量大于某一阈能的快中子注量率可表示为： —源的中子发射率（中子/秒）； —快中子屏蔽层中的宏观分出截面（厘米-1）； —初始积累因子，表示能量大于阈能的中子由于向前散射 而引起的中子注量率的累积 本文档共51页；当前第29页；编辑于星期二\18点33分 二. 计算快中子屏蔽的分出截面法 第一节 快中子屏蔽的分出截面法和张弛长度法 2. 快中子在非含氢介质中的减弱 能量En1.5MeV的中子初始累积因子 材 料 中子能量E0（MeV） 2 4 6 8 10 14 14.9 铝 3.5 2.5 水 5.4 4.6 4.2 3.3 2.9 3.0 氢 3.5 3.5 3.5 2.8 2.8 2.8 石墨 1.4 1.3 铁 4.9 2.7 碳化硼 5.0 1.8 聚乙烯 2.4 2.5 铅 4.0 2.9 某些单能中子的B值列于下表中，在缺乏数据的情况下，可取B＝5 本文档共51页；当前第30页；编辑于星期二\18点33分 二. 计算快中子屏蔽的分出截面法 第一节 快中子屏蔽的分出截面法和张弛长度法 2. 快中子在非含氢介质中的减弱 上式的使用条件： ①当材料的原子量MA27时，快中子的能量下限Ec＝1.5MeV； 当材料的原子量MA27时，快中子的能量下限Ec＝3MeV ②当离点源的距离r3λ时， ，这时分出截面法和张驰长度法相 同， 值不随距离而变化，可采用在水介质中的测量值。 如果点源具有谱分布,将能量相近的中子分组，分别计算每组快中子在介质中的减弱，然后迭加得注量为： 本文档共51页；当前第31页；编辑于星期二\18点33分 二. 计算快中子屏蔽的分出截面法 第一节 快中子屏蔽的分出截面法和张弛长度法 2. 快中子在非含氢介质中的减弱 对单能各向同性点源进行多层屏蔽组合屏蔽时，快中子的注量率可表示为： 式中 及 分别表示第i层屏蔽材料的宏观分出截面和厚度。这个初始注量率积累因子B，应取轻材料的初始积累因子。 本文档共51页；当前第32页；编辑于星期二\18点33分 三. 张弛长度法 第一节 快中子屏蔽的分出截面法和张弛长度法 中子在介质中的注量率或剂量率减弱e倍的长度称为张弛长度，用λ表示。若屏蔽层的组成均匀，在一定的屏蔽厚度内，其张弛长度近似为常数，因此，中子在屏蔽层内减弱可用张弛长度的指数规律来描述： —各向同性点源的中子发射率（中子/秒）； —初始注量率累计因子； —源至探测点的距离（厘米）； —能量为E0的中子在ri+1至ri段内的张弛长度（厘米-1） 本文档共51页；当前第33页；编辑于星期二\18点33分 三. 张弛长度法 第一节 快中子屏蔽的分出截面法和张弛长度法 若整个屏蔽层内的张弛长度为常数λ，则有： t为屏蔽层的厚度（厘米）； 当屏蔽层时由几种材料的混合物组成时，混合物的张弛长度用下式计算： —密度为ρi的第i种组成元素的张弛长度； —第i种组成元素在屏蔽层中的密度； 本文档共51页；当前第34页；编辑于星期二\18点33分 三. 张弛长度法 第一节 快中子屏蔽的分出截面法和张弛长度法 对于张弛长度法的应用的说明： （1）用张弛长度法计算的中子注量率，包括了散射中子和未经散射的中子，其概括的能量范围决定于张弛长度和积累因子适用的能量范围； （2）从中子在物质中的减弱曲线看，初始积累因子表示偏离指数形式的程度。在含氢的非均匀介质中，当屏蔽层厚度t≥3λ时，减弱曲线基本上按e-t/ λ变化，取B=1；若屏蔽层厚度在3个平均自由程（t3λ）以内，应考虑积累因子。在非含氢介质的情况下，即使在离源较远的参考点处，也应考虑积累因子。 各种材料的反应堆谱或裂变中子的张驰长度有表可查。 本文档共51页；当前第35页；编辑于星期二\18点33分 第二节 同位素中子源的屏蔽 一类是移动式的屏蔽容器和各种用途的辐照设备。 安全要求，除一般运输容器外，经常使用的中子源，经屏蔽后，在工作点的计量当量率不得超过2.5×10-2毫西弗/小时，并按国家规定取两倍的安全系数 屏蔽材料：除固定式外，通常可用饱和硼酸水溶液、含1.2%硼的石蜡、掺有B4C的丁苯橡胶、聚乙烯、含氢量约为1%的混凝土等；具有强γ本底的中子源，则应考虑两层屏蔽，内层用铅吸收γ射线，外层用石蜡等屏蔽中子 同位素中子源用途甚广，屏蔽方式一般分为两类： 一类是固定式屏蔽，此类屏蔽较为简单 （把源直接安装在地下，利