GB/T 42975-2023半导体集成电路　驱动器测试方法.pdf

ICS31.200 CCSL56 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT42975 2023 半导体集成电路 驱动器测试方法 — Semiconductorinteratedcircuits Testmethodofdriverdevice g 2023-09-07发布 2024-01-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — GBT42975 2023 目 次 前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅰ 1 范围 ……………………………………………………………………………………………………… 1 2 规范性引用文件 ………………………………………………………………………………………… 1 3 术语和定义 ……………………………………………………………………………………………… 1 4 一般要求 ………………………………………………………………………………………………… 1 5 静态参数测试 …………………………………………………………………………………………… 2 输入高电平电压( )……………………………………………………………………………… 5.1 VIH 2 输入低电平电压( )……………………………………………………………………………… 5.2 VIL 3 输入钳位电压( )………………………………………………………………………………… 5.3 VIK 3 输入高电平电流( )……………………………………………………………………………… 5.4 I 4 IH 输入低电平电流( )……………………………………………………………………………… 5.5 I 5 IL 输入阻抗( )……………………………………………………………………………………… 5.6 RIN 6 输出高电平电压( ) …………………………………………………………………………… 5.7 VOH 6 输出低电平电压( )……………………………………………………………………………… 5.8 VOL