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本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及芯片测试数据的解析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：根据STDF、占用空间和解析线程的数量，确定解析线程的解析位置，使各解析线程对STDF中对应解析位置内解析芯片测试信息；芯片测试信息携带有位置信息，并包含芯片的起止测试信息；根据所有解析线程解析得到的起止测试信息，及对应的位置信息确定各解析线程对应目标起止测试信息的目标位置；将所有目标位置发送给对应的解析线程，以使各解析线程对STDF中在目标位置内的测试结果依次进行解析，得到解析后的芯片测试结果。通
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116820853 A
(43)申请公布日 2023.09.29
(21)申请号 202310786767.0
(22)申请日 2023.06.29
(71)申请人 上海孤波科技有限公司
地址 20
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