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本申请提供了一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统，涉及芯片领域，方法包括：在芯片中设置至少2个PROM，向其中一个PROM中写入初始唯一ID，若初始唯一ID存在错误，则向其他PROM中的一个PROM中写入更新唯一ID，初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成；芯片出厂时，向剩余的PROM写入空白标识符；读取识别芯片的唯一ID时，读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID，提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号，对编号按先后顺序进行排序，根据编号对各唯一标识符进行排序，以最后一个唯一标
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115561622 A
(43)申请公布日 2023.01.03
(21)申请号 202211258885.6
(22)申请日 2022.10.14
(71)申请人 安测半导体技术（江苏）有限公司
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