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- 2023-10-04 发布于四川
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一种准确测量双电层电势分布的方法,属于界面特性调控领域,涉及固态电解质基底和二维材料双电层器件,结合开尔文探针力显微镜的表面电势测量方法调控表征双电层界面特性。本发明是要解决现有的离子双电层器件界面不清晰,无法阐述微观纳米尺度下双电层结构、离子迁移的运行规律的技术问题。本发明通过调节固态电解质基底材料的栅极电势调节界面双电层电场,以开尔文探针力显微镜测试二维材料表面电势分布,获得随双电层界面电场变化趋势。本发明以固态电解质为依托暴露双电层界面,结合开尔文探针力显微镜实现在微纳米尺度下对双电层结构
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115684654 A
(43)申请公布日 2023.02.03
(21)申请号 202211350209.1
(22)申请日 2022.10.31
(71)申请人 哈尔滨工业大学
地址 150001
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