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一种基于NVME多NS管理的碎片测试方法.pdf

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    一种基于NVME多NS管理的碎片测试方法，涉及NVME设备技术领域，可以更全面、准确的覆盖每个命名空间。可靠性提升：验证多ns容量变更及切分整合功能的正确性及数据的稳定性。性能优化：多ns容量均衡，可以实现并行访问和负载，从而提高设备的整体性能。通过上述测试方法，可提前预测，及时发现问题。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116841813 A (43)申请公布日 2023.10.03 (21)申请号 202310809347.X (22)申请日 2023.07.04 (71)申请人 山东华芯半导体有限公司 地址 2

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