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本发明公开了一种适用于混合集成电路测试系统的快速校准系统及方法，所述系统包括控制模块、第一信号源模块、第二信号源模块、第一采集模块、第二采集模块、信号通道切换模块、切换开关模块、第一单端转差分模块、第二单端转差分模块和混合集成电路测试系统的待校准通道；所述混合集成电路测试系统的待校准通道包括输入通道模块和输出通道模块，所述输入通道模块包括多个输入通道，所述输出通道模块包括多个输出通道。本发明通过神经网络建模对测量数据进行处理，寻找数据特征，实现校准数据的预测并自动生成，具备速度快、通用性强和准确
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116840759 A
(43)申请公布日 2023.10.03
(21)申请号 202310811393.3
(22)申请日 2023.07.04
(71)申请人 成都泰格微电子研究所有限责任公
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