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本发明提供了一种基于度量学习的屏蔽罩类外观缺陷检测方法、计算机可读存储介质及数据处理装置，包括以下步骤：选取正样本Xp、锚点样本Xa及负样本Xn；经过神经网络分别提取三个样本的样本特征fp、fa、fn；将提取的fp、fa、fn通过反向计算TripletLoss；若TripletLoss不为0，则对神经网络的权重值进行更新，并重新提取样本特征；若TripletLoss为0，则完成对神经网络的权重值的更新；检测样本经过神经网络提取样本特征，并将该样本特征与预备好的缺陷样本库里的样本特征进行比对
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116842359 A
(43)申请公布日 2023.10.03
(21)申请号 202310675584.1 G06N 3/02 (2006.01)
(22)申请日 2023.06.0
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