一种芯片测试向量生成方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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2023-10-11 发布于四川
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一种芯片测试向量生成方法、装置、设备及存储介质.pdf

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本申请公开了一种芯片测试向量生成方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片测试领域，包括：根据芯片设计文件和脚本文件提取芯片端口名称以及相应的端口方向；基于端口方向以及脚本文件中的芯片采样时钟周期为端口信号设置相应的采样方式和采样时间；基于芯片采样时钟周期、采样方式和采样时间对端口信号进行采样，以得到采样结果；基于采样结果和汇编文件生成测试向量，并将测试向量输入芯片测试机台以对芯片进行仿真测试；所述汇编文件为利用基于汇编语言编写的验证项进行编译后得到的文件。本申请通过将汇编语言编写的验证项转化为芯片测

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116860629 A (43)申请公布日 2023.10.10 (21)申请号 202310815328.8 (22)申请日 2023.07.05 (71)申请人苏州国芯科技股份有限公司地址