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本发明实施例公开了一种测量装置及方法，涉及半导体测试技术领域，所述测量装置包括：测量电路，其第一端用于接收测试信号，所述测量电路的第二端与所述接口电路连接；信号采集电路，与所述测量电路的第二端和所述接口电路连接，并用于采集经过所述接口电路的测试反馈信号；以及，运算单元，配置为至少基于所述测试信号和测试反馈信号得到所述接口电路的阻抗值。本发明实施例便于提高处理器接口电路的端接阻抗的测试准确性，适用于处理器高速接口的接收机终端阻抗测试场景中。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116859124 A
(43)申请公布日 2023.10.10
(21)申请号 202310800049.4
(22)申请日 2023.06.29
(71)申请人 成都海光集成电路设计有限公司
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