一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法.pdfVIP

下载本文档

0
0
约1.46万字
约 15页
2023-10-14 发布于四川
举报
版权申诉

一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明提供了一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法，包括：至少一个集成子板，用以通讯连接于不同的待测电子产品；以及服务端，用以通讯连接于所述集成子板，以向所述待测电子产品供电，并根据所述待测电子产品的类型，搭建对应的测试环境；其中，所述服务端还用以根据所述测试环境，以选择对应的系统镜像文件进行烧录，生成测试文件，并将所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中进行测试，以生成测试结果。通过本发明提供的一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法，能够提升测试效率。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116881063 A (43)申请公布日 2023.10.13 (21)申请号 202311140061.3 (22)申请日 2023.09.06 (71)申请人合肥康芯威存储技术有限公司地址