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XRD 图谱分析最终版 XRD 图谱分析 解析 X 射线衍射谱图中，d 是晶体晶格中相邻两个晶面的面间距，一般以埃为单位。 晶体的空间结构可以用三轴坐标系表示，也可以用四轴定向表示，尤其是三方、六方晶系 用四轴定向表示有其独到的便利。 在三轴定向中，在不同晶向，相邻两个晶面间的晶面 间距都可以用 d 表示。d 的脚标用其所描述的正点阵或倒易点阵的相应晶面指标(hkl)表 示。如:d(100),d(020),d(002),等。 在研究石墨状微晶、多晶石墨或碳纳米管、碳纤维等类石墨结构等材料的 X 射线衍射 测定中，发现石墨、类石墨晶体结构的 X 射线衍射谱的峰并不多。常用 d002 代表石墨状 微晶的平均层层间距;用 Lc 表示微晶层面沿 c 轴方向(有时刚好也就是 002 晶面指数，可 以使用 002 峰参数进行计算)的堆积厚度;用 La 表示沿 a 轴方向的微晶宽度或直径等面间 距，使用 100 峰或 110 峰(要视具体晶体而定)进行计算。 对于晶体或部分晶体样品的 X 射线衍射谱解析讨论中，三个晶向上的晶面间距都可以 用 d 表示之 ，而不论它是否经过拉伸或加温处理而改变晶格结构与否 ，它都是作为一个一 个晶体样品、晶体对象存在的。但如果在一个系列中，主要研究点是通过加力、加温而使 晶体发生变化 ，再用 d 表示三轴方向上的面间距就不如使用另一些字母以显示其特点而避 免与常规面间距 d 混淆 ，La,Lc 就是这样应运而生了。 X 射线衍射分析，是以布拉格定律 (公式)为基础的。布拉格公式: 2d sinθ=nλ ， 式中 λ 为 X 射线的波长(Cuka 波长为 0.15406nm ，Cuka1 波长为 0.15418nm。)n 为任何正整数，并相应称为 n 级衍射。θ 是掠射角(也称布拉格角，是入射角的余角) ，2θ 才是衍射角。 当 X 射线以掠射角 θ 入射到某一点阵平面间距为 d 的原子面上时,在符合上 式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格定律简洁直观地表达了 衍射所必须满足的条件。当 X 射线波长 λ 已知时(选用固定波长的特征 X 射线) ，采用细粉 末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一个 θ 角符合布拉格条件 的反射面得到反射。测出 θ 后，利用布拉格公式即可确定点阵平面间距、晶胞大小和类型; 根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布状况。这便是 X 射线结构分析中的 粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中所 用单晶样品保持固定不变动(即 θ 不变),以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都 满足布拉格条件,故选用连续 X 射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的 方向 θ 后,便可计算 X 射线的波长，从而判定产生特征 X 射线的元素。这便是 X 射线谱术, 可用于分析金属和合金的成分。 微晶尺寸由 Bragg 公式 d=λ/(2sinθ) 和 Scherrer 公式 L=kλ/(βcosθ) 计算, 在计算微晶尺寸时我们经常引用到 scherrer 公式. 谢乐方程 (Scherrer 公式)也写成:d(hkl)=kλ/(βcosθ), 其中，d(hkl)是沿垂直于晶面 (hkl)方向的晶面间距或晶粒直径，k 为 Scherrer 常数(通常为 0.89 ，有时也取1 或 0.9) ， λ 为入射 X 射线波长(Cukα 波长为 0.15406nm ，Cuka1 波长为 0.15418 nm。) ，θ为布 拉格角(?) ，2θ才是衍射角;β 为衍射峰的半高峰宽(rad)。 根据 X 射线衍射理论，在晶粒尺寸小于 100nm 时，随晶粒尺寸的变小衍射峰宽化变 得显著，考虑样品的吸收效应及结构对衍射线型的影响，样品晶粒尺寸可以用谢乐方程公 式计算。计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射 角的衍射线来代替。此式适用范围为 1-100nm。 但是在实际操作中如何从一张普通的 XRD 图谱中获得上述的参数来计算晶粒尺寸还 存在以下问题: 1) 首先，用 XRD 计算晶粒尺寸必须扣除仪器宽化和应力宽化的影响。在晶粒尺寸小 于 100nm 时，应力引起的宽化与晶粒尺度引起的宽化相比 ，可以忽略不计。此时， Scherrer 公式是适用的。但晶粒尺寸大到一定程度