一种增大HVPMOS ID的工艺方法.pdfVIP

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  • 2023-10-21 发布于四川
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本发明提供一种增大HVPMOSID的工艺方法,在P型基底上形成NWELL区;在P型基底上自下而上依次形成二氧化硅层、氮化硅层;刻蚀氮化硅层并露出二氧化硅层,形成窗口;通过窗口在NWELL浅区域注入硼离子,之后在氮气和氧气的氛围中进行推进,形成NWI区;在窗口的界面处形成隔离区。本发明在形成NWI进行硼离子注入后,将原有的氮气氛围的推进过程改为在氮气和氧气氛围中进行推进,使得硼离子在二氧化硅中的扩散系数增大,使硼离子浓度梯度发生变化,从而使得HVPMOS的ID得以增加,并且对其他参数的影响甚微。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 110752154 A (43)申请公布日 2020.02.04 (21)申请号 20191

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