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- 2023-10-24 发布于河南
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摘要:硅基电容器外观典型缺陷判断、硅破坏性物理分析的剖面检查方法和判据主要针对硅基电容器外观缺陷进行判断。该技术包括电极上的缺陷和背面的缺陷。在电极上,存在严重的划伤和划花问题,但可发现有下层金属存在,属于合格品。在背面,可能有划痕或刮花,但未触及到电极边缘。此技术可以有效的检测和评价硅基电容器的质量。
T/GDEIIA XXXXX 2023
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附录A
(规范性)
说明事项
A.1使用注意事项
电容器在使用过程中应注意以下事项:
a) 电容器在使用过程中操作人员需佩戴防静电手环;
b) 应在额定电压值内使用产品,注意关键参数的降额使用;
c) 电容器在搬运、移动时应避免激烈碰撞,禁止使用坠落的电容器;
d) 产品应避免接触氯气、酸性或硫化气体等化学气体;
e) 产品可用无水乙醇等非导电非腐蚀性溶剂进行清洗。待用的产品、引线丝、外壳和基板应存放
在充氮气的气柜中储存;
f) 安装产品使用的工具和设备应无污染、无夹伤或擦伤产品的尖锐棱角,满足产品安装要求;存
取产品应采用真空吸笔或镊子等工具,
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