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PAGE 9 编制说明《光学元件表面疵病定量检测方法》 任务来源及计划要求 经中国材料与试验团体标准委员会（CSTM标准委员会）光电材料及产品领域委员会审查，CSTM标准委员会批准CSTM标准《光学元件表面疵病定量检测方法》由中国科学院上海光学精密机械研究所（以下简称中科院上海光机所）牵头，项目公告文件号：材试标字[2020]238号，归口管理委员会为CSTM/FC60/TC03光电材料及产品领域委员会光电检测标准化技术委员会，该标准（中文版）立项编号为CSTM LX 6003 00595-2020，标准（英文版）立项编号为CSTM LX 6003 00595-2020E。 编制说明 编制原则 本标准符合国家有关法规和政策，贯彻执行国家标准、国家军用标准和行业标准的有关规定，充分吸收适用于本技术要求的相关国家标准、国家军用标准的内容，与相关标准协调一致。 本标准的构成、内容、文字的表述、条文的编排、文件的引用等符合GB/T　1.1-2020《标准化工作导则　第1部分：标准化文件的结构和起草规则》给出的规则要求。 编制出的标准应具有先进性、适用性、科学性和可操作性。 工作分工 本标准由中国科学院上海光学精密机械研究所牵头，合肥知常光电科技有限公司、中国工程物理研究院激光聚变研究中心标准化与检测中心、上海理工大学为联合承研单位。具体分工如下： 1）中国科学院上海光学精密机械研究