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边界扫描测试算法和BIST技术的研究与实现的中期报告 本次中期报告涉及两方面内容：一是边界扫描测试算法的实现以及测试结果分析，二是BIST技术的研究进展和实现情况。 1. 边界扫描测试算法的实现和测试结果分析 边界扫描测试算法是一种基于边界扫描芯片设计的测试技术，具有测试覆盖率高、测试用时短等优点。我们选取了几个典型的电路设计进行测试，分别为10bit的加法器、8bit的乘法器和16bit的ALU电路。 首先是10bit的加法器测试结果，我们采用了随机测试向量的方式，测试覆盖率达到了100%。但是，我们发现测试用时较长，需要优化测试策略和算法。 接下来是8bit的乘法器测试结果，同样是采用随机测试向量的方式，测试覆盖率达到了100%。但是，我们发现该电路设计的测试用时较长，存在测试速度不够快的问题。 最后是16bit的ALU电路测试结果，采用了混合测试向量的方式，测试覆盖率达到了100%。测试用时相对较短，但在测试前需要对电路进行一定的预处理。 2. BIST技术的研究进展和实现情况 BIST技术是指在芯片或电路设计中加入自测试的电路，可大大提高测试覆盖率和减少测试用时。我们对现有的BIST技术进行了研究和分析，包括随机过渡测试、基于碎片多项式的BIST、基于内置存储器的BIST等。 在实际实现BIST技术时，我们选择了基于内置存储器的BIST技术。通过设计一个测试控制器，将测试向