DFT基础资料分析和总结.docxVIP

  • 23
  • 0
  • 约1.21万字
  • 约 20页
  • 2023-10-26 发布于上海
  • 举报
PAGE PAGE 10 第四章 DFT 基础 测试在半导体产品实现过程中的意义 — 半导体产品的实现过程 集成电路从设计到产品一般要经历以下几个步骤才能成为产品(如下图所示): 综合(synthesis)制造 综合(synthesis) 制造 HDL 描述 版图(layout) 裸片(die) 验证(verification) 测试(tes)t 测试 芯片(chip) 产品(product) 封装(package) 设计过程:集成电路设计一般从编写HDL 代码开始,HDL 代码可能用verilo,g 也可能用 VHDL 语言写成,可能是RTL 级,也可能是门级。如果是RTL 级,首先进行逻辑综合、验证将设计转变成门级网表,然后进行布局布线变成最终的版图。 制造过程:代工厂接受来自设计者的版图数据(GDSII )将其制成掩膜版(mask ),然后通过复杂的制造过程将期望的电路做在晶园片上,这时晶园片上已经包含了若干个芯片的原型--裸片(die)。 晶园片测试:制造好的晶园片需要进行严格的测试然后划片、封装,实际上只有那些通 过测试的裸片才会进行封装,而未通过测试的裸片被淘汰。经过封装的裸片就变成芯片。 芯片测试:通过晶园片测试和封装的芯片还不能算真正的产品,它仍然要进一步进行测试确认没有故障才能成为真正的半导体产品。 从这个过程可以看出,测试是半导体产品实现过程中一个必不

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档