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本发明提供了一种基于层次分析法的天基探测效能计算方法，包括：获取天基探测效能在各个探索方向的评价指标；根据各个待评估的天基探测设备的性能及其评价指标完成每个天基探测设备的评分；根据每个天基探测设备的评分基于层次分析法构造两两比较的判断矩阵；利用判断矩阵评判是否通过一致性验证，当通过一致性验证时，利用权重合成方法对每个天基探测设备的评分进行计算得到每个天基探测设备的效能评估结果。本发明通过层次分析法完成临近空间环境天基探测效能评估指标体系框架的构建，可以将复杂的评效能计算问题分解为多个层次，使得问
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116934163 A
(43)申请公布日 2023.10.24
(21)申请号 202310932219.4
(22)申请日 2023.07.27
(71)申请人 武汉大学
地址 430072
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