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本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，包括：多功能测试板，多功能测试板上设置中央处理器和调试端口，中央处理器和调试端口交替与待测设备电性连接；录制模块，电性连接于待测设备，在中央处理器对待测设备写入预设数据时，录制模块记录写入待测设备的预设数据，并形成第一数据包；电源管理模块，设置在多功能测试板上，且电性连接于待测设备，在写入预设数据的过程中，电源管理模块将待测设备断电；数据抓取模块，在待测设备重新上电后，数据抓取模块从待测设备读出预设数据，形成第二数据包；以及数据对比模块，接收并对比第一数
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116932303 A
(43)申请公布日 2023.10.24
(21)申请号 202311181415.9
(22)申请日 2023.09.14
(71)申请人 合肥康芯威存储技术有限公司
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