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本发明公开了一种适用于观察裂纹扩展路径的断口处EBSD样品的制备方法，该方法的具体过程为：首先将需观察裂纹扩展路径的断口样品进行切割得到断口切割块，然后采用低目数粗砂纸对断口切割块的断口侧面进行粗磨，并采用无水乙醇清洗后烘干，再将速干型502胶水均匀涂抹在断口正面形成绝缘保护层，采用高目数细砂纸对具有绝缘保护层的断口切割块的断口侧面进行细磨，经电解抛光、清洗，获得断口处EBSD样品。本发明通过在断口正面从形成绝缘保护层，最大程度保留了断口处裂纹扩展路径的原始形貌，能够获得断面清晰、裂纹扩展路径明
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116929879 A
(43)申请公布日 2023.10.24
(21)申请号 202310918199.5
(22)申请日 2023.07.25
(71)申请人 东北大学
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