一种芯片裂纹检测方法、系统、存储介质及智能终端.pdfVIP

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  • 2023-10-25 发布于四川
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一种芯片裂纹检测方法、系统、存储介质及智能终端.pdf

本申请涉及一种芯片裂纹检测方法、系统、存储介质及智能终端,涉及晶圆芯片检测技术的领域,其包括于未通过DBG工艺前在晶圆表面溅射阻隔层和种子层,所述晶圆上设有衬底和钝化层;于晶圆上设置标记;于DBG工艺中在将晶圆背面贴划片膜前且晶圆背面朝上时进行扫描,形成背面裂纹扫描图谱;将背面裂纹扫描图谱镜像,以形成镜像背面裂纹扫描图谱;于DBG工艺完成后在晶圆正面进行扫描,形成正面裂纹扫描图谱;基于标记整合镜像背面裂纹扫描图谱和正面裂纹扫描图谱,形成综合裂纹扫描图谱;基于综合裂纹扫描图谱确定裂纹结果并进行输出

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116936397 A (43)申请公布日 2023.10.24 (21)申请号 202311196832.0 (22)申请日 2023.09.18 (71)申请人 宁波芯健半导体有限公司 地址 3

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