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- 2023-11-01 发布于四川
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本发明提供一种QWIP器件的分子束外延生长方法,涉及半导体制造技术领域。该方法包括:根据AlxGa1‑xAs层中的组分x,确定铝分子束流速率以及镓分子束流速率;选择两个镓源炉;根据极角θAl和极角θGa2,针对VGa1的多个不同取值,分别计算均匀性指标值,并将最小指标值对应的VGa1的值作为选定值;将第一镓源炉的束流速率稳定为选定值,将第二镓源炉的束流速率稳定为VGa减选定值的差值。通过采用两个镓源炉来提供镓分子束,并通过计算均匀性指标值来选取第一镓源炉的最优束流速率,进而得到第二镓源炉的束流速
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116978984 A
(43)申请公布日 2023.10.31
(21)申请号 202311237686.1
(22)申请日 2023.09.25
(71)申请人 新磊半导体科技(
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