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本发明公开了一种基于并行神经网络的集成电路的参数映射方法及系统，包括：步骤1、获取待映射电学参数；步骤2、对所述待映射电学参数进行标准化处理，得到预处理标准化的电学参数；步骤3、将所述预处理标准化的电学参数输入至训练好的并行神经网络中，得到预处理标准化的模型参数；步骤4、将预处理标准化的模型参数进行标准化的逆向处理，得到最终的映射结果。本发明公开了一种利用并行神经网络解决集成电路老化仿真中参数映射问题的方法。本发明利用对输入输出的标准化解决了并行神经网络在参数映射的训练过程中梯度下降不稳定的问题
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116976264 A
(43)申请公布日 2023.10.31
(21)申请号 202310475038.3
(22)申请日 2023.04.27
(71)申请人 西安电子科技大学
地址 7100
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