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片上的测试电路.pdfVIP

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  • 2023-11-01 发布于四川
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片上的测试电路.pdf

    本发明提供一种片上的测试电路，其包括一个或多个测试单元，每个测试单元包括：待测器件；总线，其包括线HF、LF、HS、LS；第一组开关，其包括第一激励开关、第一感应开关，第一激励开关连接于线HF和待测器件的第一连接端之间，第一感应开关连接于线HS和待测器件的第一连接端之间；第二组开关，其包括第二激励开关、第二感应开关，第二激励开关连接于线LF和待测器件的第二连接端之间，第二感应开关连接于线LS和待测器件的第二连接端之间，其中第一组开关和第二组开关同步导通和断开。这样，方便对所述测试单元进行寻址，并

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116978810 A (43)申请公布日 2023.10.31 (21)申请号 202311232711.7 (22)申请日 2023.09.22 (71)申请人 苏州珂晶达电子有限公司 地址 2

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