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BiFeO3薄膜的老化与漏电抑制的中期报告 概述 BiFeO3（BFO）薄膜由于其在多种电学和磁学性质上的优异表现而成为了一种广受关注的材料。然而，BFO薄膜的应用受到了薄膜老化和漏电的限制。本文旨在研究BFO薄膜的老化机制，并探索抑制漏电的方法。 老化机制的研究 我们通过蒸发沉积法制备了BFO薄膜，并通过展宽的XRD、SEM、AFM等表征技术来研究其老化机制。我们发现BFO薄膜在室温下存放一段时间后，会发生晶体结构衍变和形貌变化。展宽的XRD表明薄膜中出现了附加的杂散谱线，这可能是由于结构的不完整引起的。SEM和AFM显微镜照片显示，BFO薄膜表面出现了裂缝和颗粒聚集。这些变化可能与薄膜中出现的附加杂质有关。 漏电抑制的研究 为了抑制漏电，我们添加了CuO纳米粒子到BFO薄膜中。我们发现添加CuO后，薄膜的介电常数有所提高，漏电流也减小，这可能是由于CuO纳米粒子的局域电场效应而引起的。我们进一步研究了添加CuO纳米粒子的影响，在热膨胀系数、电学性能等方面发现了一些有趣的变化，这表明添加CuO纳米粒子对BFO薄膜的整体性能有积极的影响。 结论 BFO薄膜在长时间存放后会发生老化，附加的杂质可能是引起这种现象的原因。添加CuO纳米粒子可以抑制漏电，提高薄膜的介电常数，并导致一些有趣的性质变化。我们认为这些结果对于进一步开发BFO薄膜的应用具有重要意义。