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本公开涉及半导体存储装置和用于控制半导体存储装置的方法。为了减少半导体存储装置的验证处理所需的时间，根据一个实施例的半导体存储装置包括多个单位存储器阵列，每个单位存储器阵列包括多个存储器块、感测放大器和验证电路。当半导体存储装置执行验证处理时，将对应于验证数据的脉冲施加到每个存储器块的每个存储器单元，并且将对应于验证数据的期望值设置到每个验证电路。每个验证电路通过将由感测放大器读取的存储数据与期望值进行比较来执行验证处理。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 109545262 A
(43)申请公布日
2019.03.29
(21)申请号 20181
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