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本发明实施例提供了一种eMMC老化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取eMMC测试环境信息，其中，eMMC测试环境信息包括环境属性信息；根据环境属性信息确定芯片测试性能参数；根据芯片测试性能参数对eMMC芯片进行读存操作处理得到读存数据；对读存数据进行分析处理得到数据分析信息；将数据分析信息与环境属性信息进行结合得到eMMC老化测试结果。根据本发明实施例的方案，使得eMMC老化测试能够更加细化精准。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116990660 A
(43)申请公布日 2023.11.03
(21)申请号 202310758370.0
(22)申请日 2023.06.25
(71)申请人 珠海妙存科技有限公司
地址 51
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