电子设备的黑盒测试方法、计算机设备及可读存储介质.pdfVIP

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2023-11-04 发布于四川
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本申请提供一种电子设备的黑盒测试方法、计算机设备及可读存储介质。其中，电子设备包括多个功能回路，每一功能回路包括若干器件，且每一器件设置于至少一功能回路中。电子设备的黑盒测试方法包括：执行每一个测试用例以对对应的功能回路进行测试；获取已测的每一功能回路的测试结果；获取已测的每一功能回路的回路数据，功能回路的回路数据记载有功能回路所包括的所有器件；根据已测的所有功能回路的测试结果以及回路数据，确定已测的所有功能回路中的每一器件的失效等级。本申请提供的测试方法，可在黑盒测试中定位出可能的异常零件，缩

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116990602 A (43)申请公布日 2023.11.03 (21)申请号 202310827949.8 (22)申请日 2023.07.06 (71)申请人深圳市正浩创新科技股份有限公司地