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本发明揭示一种光学测量装置工作模式控制方法，包括如下步骤：光学测量装置启动，进入加热模式；利用温度检测元件检测光学测量装置的温度，如果温度小于预设的第一温度阈值则令光学测量装置保持加热模式；如温度大于第一温度阈值，则发送指令给与该光学测量装置连接的上位机，告知上位机该光学测量装置达到理想工作区间，可正常抓取数据；检测光学测量装置的温度是否大于第二温度阈值，如否判断上位机是否发出抓取数据的指令，如否则持续判断；如果检测光学测量装置的温度大于第二温度阈值或接收到上位机发出抓取数据的指令，则进入工作模
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117007100 A
(43)申请公布日 2023.11.07
(21)申请号 202311101977.8
(22)申请日 2023.08.29
(71)申请人 上海芯歌智能科技有限公司
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